精确 WDL/PDL 特性测量
高功率重复性 <±0.02 dB
高PDL 重复性 ±0.03 dB
- STS
光学器件扫描测试系统
- 实时功率校正
- 精确 WDL/PDL 特性测量
- 高功率重复性<±0.02 dB
- 高PDL 重复性 ±0.03 dB
- 高波长分辨率和精度
- 可进行多通道测量
- 简易测量参数建立
- 数据分析
描述
Santec快速扫描系统由TSL系列可调谐激光器，MPM系列多通道功率计，PCU-110偏振控制器组成。Santec专用的软件使得系统测量IL,WDL和PDL时最优化，既可用于研发，也可用于生产环境。
通过实时校正，从可调谐激光器中同时获得输出功率，通过DUT传输到功率计，系统通过穆勒矩阵法提供高精度的IL,WDL,PDL分析。
Santec的MPM-210H功率计主机也可与4通道电流计模块 MPM-213结合使用。扫描测试系统与MPM-210H/MPM-213 的相结合，适用于测试光纤组件的性能，例如收发器的光电二极 管(ROSA/Coherent receiver等)或光信道监
缩短测量时间
重缩放算法可实现高波长精度和减少测量时间
多通道测量
每台主机最多20通道
专属软件和 DLL
支持用户图形界面及DLLs (Visual Studio)
满足定制需求
数十年经验，满足您的定制需求
应用
- 器件及模块的光学特性：
- 可调谐滤波器, 交织器, 光纤光栅, 耦合器, 分离器, 隔离器, 开关等
- WSS和波长阻隔器
- DWDM器件 - 硅光子材料特性 , 包括微腔环形谐振器
- 光谱学
- 干涉测量
WDL（波长损耗）测量
80 dB或以上的高动态范围测量
Santec可调谐激光器TSL系列创新的腔体设计，可降低光ASE噪音，高信噪比超过90 dB / 0.1 nm以上，并且同时保持高输出功率 + 10 dBm以上。TSL系列可完美针对高密度波分复用（DWDM）和波长选择开关（WSS）等下一代光器件测试。以下图表是CWDM滤波器和陷波滤波器（如FBG）的测量数据。
高波长精度+/- 3 pm
Santec可调谐激光器TSL系列配备有标准的波长监测器，是非常理想的光无源器件高精度测试仪器。下图是 Acetylene (12C2H2) 波长测量数据，从中可以看出高测量精度。
高波长分辨率小于 0.1 pm
Santec 快速扫描测试系统不仅可以进行光器件WDL测量，还可以测试高密度波分复用（DWDM），AWG,波长选择开关（WSS）或更多，而且在连续扫描时，有效保持超窄滤波器 (Ultra-high Q 腔体装置) 高分辨率。
配置
Polarization Dependent Loss Measurement
- Tunable Laser TSL-775 / TSL-570
- Polarization Controller PCU-110
- Optical Power Meter MPM-220
Wavelength Dependent Loss Measurement
- Tunable Laser TSL-775 / TSL-570
- Optical Power Meter MPM-220
