測定距離を拡大した波長掃引型フォトニクスアナライザ

santec Holdings株式会社（本社 愛知県小牧市）は、OFDR（Optical Frequency Domain Reflectometry）技術を用いた波長掃引型フォトニクスアナライザ SPA-110（以下「本製品」といいます。）を開発しました。本製品は、santec波長可変レーザ（TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測、導波路伝搬損失計測、波長依存損失計測）を提供する分析装置です。測定距離を従来機（SPA-100）の6倍以上の30mまで拡大し、測定距離に余裕をもってご利用いただけるようなりました。また、損失測定ダイナミックレンジを従来機より10dB改善し80dBまで拡大したことで、より微弱な反射点も検出可能となっています。従来機と同じ5μmの高い位置分解能を備えており、シリコンフォトニクス及び小型フォトニクスデバイスの開発や生産など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっています。

新製品の特長

・ フォトニクスデバイス測定システムへ最適化
        最大30mまでの反射測定が可能

・ 高分解能
        5μmの高い距離分解能で分析可能

・ 高感度
        80dB以上の高いダイナミックレンジで高感度測定が可能

・ 特許取得済近接センシング機能
        ファイバプローブとデバイス間距離の近接測定が可能

・ ユーザーフレンドリーなGUI (グラフィカルユーザインタフェース)
        導波路上の反射点と損失を示すグラフにより障害点を特定し、導波路長や実効屈折率などの解析機能を提供