IL再現性:<± 0.02 dB
PDL再現性:± 0.03 dB
- STS
光学特性検査システム
- リアルタイムパワーリファレンス
- 高精度にIL / WDL / PDL特性測定可能
IL再現性:<± 0.02 dB
PDL再現性:± 0.03 dB - 高い波長分解能と波長精度
- マルチチャンネル測定が可能
- グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート (Visual Studio)
リスケーリングアルゴリズムにより、高い波長精度を維持したまま測定時間の短縮を実現しております。
マルチポートパワーメータ1台あたり最大20チャンネルの測定が可能です。
測定パラメーターを簡単に設定可能で様々なデータ分析が容易に行えます。
Multi Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
アプリケーション
- 光部品、モジュール評価
- 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
- 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
- DWDM 部品 - フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
- 分光計測
WDL (波長依存損失) 測定
80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定
当社の波長可変レーザーTSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター(FBGなど)の測定データを示しています。


高波長精度+/- 3 pm
TSLシリーズには、標準で波長モニターが装備されているため、光部品を高精度に測定することが可能です。
次の図は、アセチレン(12C2H2)ガスの吸収線を測定波長したもので、非常に高い測定精度で測定できていることがわかります。


0.1 pm未満の高波長分解能
本システムは、WDM用光部品だけでなく狭線幅フィルターも高い波長分解能でWDL及びPDL測定が可能です。
図は、Ultra-high Q キャピティデバイスを測定したもので、0.1 pm以下の分解能で測定できていることがわかります。

システム構成例
PDL測定構成例

- Tunable Laser: TSL-775 / TSL-570
- Polarization Controller: PCU-110
- Optical Power Meter: MPM-220

- Tunable Laser: TSL-775 / TSL-570
- Optical Power Meter: MPM-220
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ドキュメント
お問い合わせTechnical Whitepaper: Insertion Loss Testing Methods Explained
Why Insertion Loss Matters
Insertion loss—the reduction of signal power as it travels through optical components or fiber—is a critical factor in ensuring the performance and reliability of modern communication systems. Whether in telecommunications, data centers, photonics, or aerospace, accurate insertion loss testing is essential to minimize signal degradation, maintain data integrity, and optimize system efficiency
What You’ll Discover in This Whitepaper
This technical guide provides engineers and industry professionals with a comprehensive overview of insertion loss testing methods, focusing on accuracy, repeatability, and practical trade-offs. Learn how to:
1. Understand the Fundamentals Master the core principles of insertion loss measurement, including how it impacts signal transmission and system performance.
2. Identify and Minimize Errors Explore common sources of measurement errors—such as connector misalignment, fiber bends, and environmental factors—and discover best practices to mitigate them.
3. Compare Testing Methods Evaluate the strengths and limitations of:
- Broadband Testing: Ideal for general applications requiring quick, cost-effective measurements.
- Swept-Wavelength Testing: Offers high precision across a range of wavelengths, perfect for advanced optical characterization.
- Fixed-Wavelength Testing: Provides stability and repeatability for specific applications.
4. Optimize Test Configurations Gain insights into recommended setups for high-precision testing, including the use of tunable lasers and power meters.
5. Leverage Advanced Tools Discover how Santec’s tunable lasers, Laser Lock Pro, and optical power meters enhance measurement stability and repeatability, delivering low-uncertainty results across C-, L-, and extended wavelength bands.
Read the full whitepaper
Co-Packaged Optics – Redefining Interconnects with Precision Testing
Co-packaged optics (CPO) is revolutionizing data center and high-performance computing interconnects by integrating optical engines directly with switching ASICs. This whitepaper offers a detailed, engineer-level exploration of CPO, covering both the technological benefits and the rigorous testing requirements needed to ensure performance and reliability.
In this whitepaper, you will discover:
1. The key drivers for CPO adoption — power efficiency, bandwidth scaling, signal integrity, and form-factor optimization
2. How photonic integrated circuits (PICs) enable compact, high-density optical I/O in CPO architectures
3. Thermal challenges in co-packaged designs and best practices for thermal management during testing
4. Testing strategies for CPO modules: measuring insertion loss, return loss, polarization effects, crosstalk, and more
5. Advanced measurement solutions: how Santec’s tunable lasers, polarization synthesizers, power meters, and swept analyzers (e.g., STS system, SPA-110) can be integrated into high-precision CPO validation setups
6. Practical tips for building an automated, repeatable test flow that addresses the unique trade-offs of co-packaged optics
Whether you're developing PICs for production, characterizing module-level performance, or optimizing test processes for yield and scale, this guide shows how Santec’s measurement instruments support every aspect of CPO development.
Read the full whitepaper