光学特性検査システム

リアルタイムパワーリファレンス
高精度にIL / WDL / PDL特性測定可能
　　　IL再現性：<± 0.02 dB
　　　PDL再現性：± 0.03 dB
高い波長分解能と波長精度　
マルチチャンネル測定が可能
グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート (Visual Studio)

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概要

波長可変レーザー (TSLシリーズ) とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット (PCU-110) および専用ソフトウェアを組み合わせた光学特性検査システム「Swept Test System」は、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。波長可変レーザーからの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。

高精度なIL/WDL/PDL特性測定

IL再現性：<± 0.02 dB
PDL再現性：± 0.03 dB

早い測定時間

リスケーリングアルゴリズムにより、高い波長精度を維持したまま測定時間の短縮を実現しております。

マルチチャンネル測定

マルチポートパワーメータ1台あたり最大20チャンネルの測定が可能です。

専用ソフトウェアとDLL

測定パラメーターを簡単に設定可能で様々なデータ分析が容易に行えます。

カスタム対応

Multi Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。

カタログ

アプリケーション

光部品、モジュール評価
- 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
- 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
- DWDM 部品
フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
分光計測

WDL (波長依存損失) 測定

80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定

当社の波長可変レーザーTSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター（FBGなど）の測定データを示しています。