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- 光学特性検査システム
- STS
光学特性検査システム
波長可変レーザー(TSLシリーズ)、パワーメータ(MPMシリーズ)、偏波コントロールユニット(PCU-110)、および、カスタムソフトを組み合わせることで、IL/WDL/PDLをR&Dや生産ラインで効率的に測定、評価いただけるシステムです。
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- 光学特性検査システム
- SPA-110
波長掃引型
フォトニクスアナライザ
(長距離モデル)測定距離を従来機（SPA-100）の6倍以上の30mまで拡大し、測定距離に余裕をもってご利用いただけるようなりました。また、損失測定ダイナミックレンジを従来機より10dB改善し80dBまで拡大したことで、より微弱な反射点も検出可能となっています。
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- 光学特性検査システム
- SPA-100
波長掃引型
フォトニクスアナライザ波長可変レーザー (TSLシリーズ) のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能 (反射点計測、波長依存損失計測、近接センシング) を提供する分析装置です。
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- 光学特性検査システム
- LLP-100
レーザサーボコントローラ
レーザの発振周波数を安定化するためのレーザサーボコントローラで、弊社波長可変レーザ（TSLシリーズ）の発振周波数を、ユーザ所有の周波数基準器にロックさせることができます。
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- 光学特性検査システム
- XCS-100
拡張可能シャーシシステム
測定用途に合わせて、コンパクトな1Uハーフラックに統一されたハードウェア(光源、アッテネータ、スイッチ、およびパワーメータ)を任意に組み合わせられる革新的なシャーシシステムです。
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- 光学特性検査システム
- PEM-340
偏光消光比モニタ
Characterize PM fiber and components
- Polarization Maintaining Fiber measurements
- Real-time Data
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- 光学特性検査システム
- PEM-400
マルチチャンネル偏光消光比メータ
- マルチチャンネル偏光光源を内蔵
- マルチファイバコネクタやファイバアレイユニットコネクタ(FAU)をの偏波消光比(PER)測定する広域検出器
- 30dB以上の広い偏波消光比(PER)ダイナミックレンジ
