高精度PDL特性評価
固定光源、または波長可変レーザを用いた偏波依存損失(PDL)測定に最適です。SantecのSwept Test Systemとシームレスに連携し、ミュラー行列を用いて波長に対するPDLデータを取得できます。
- PCU-200
偏波コントローラ
- ミュラー行列法による偏波依存損失(PDL)測定
- SantecのSwept Test Systemソフトウェアと連携可能
- 1260~1650nmの広帯域対応に対応
- 光集積回路(PIC)などの偏波感受性デバイスへの光結合をサポートする偏波探索＆ロックアルゴリズム
- USB、またはEthernet経由のSCPIコマンドによる自動測定に対応
概要
PCU-200は、ミュラー行列法によるPDL測定向けに設計された高機能な偏波コントローラです。1260~1650nmの広い動作波長範囲を備えており、O・E・S・C・Lバンドすべてに対応する単一プラットフォームのテストソリューションを提供します。
アプリケーション
- PDL測定: 固定光源や波長可変レーザを用いた偏波依存損失(PDL)の測定に適しています。
- 光源結合: フォトニック集積回路(PIC)などの高い偏波依存損失、または偏波感受性を持つデバイスへのシングルモード(SM)光源を効率的に結合します。
- デバイス特性評価: コパッケージドオプティクス(CPO)やフォトニック集積回路(PIC)の特性評価に対応しています。
- 品質管理および研究開発用途: 品質保証(QA)、および研究開発(R&D)用途にも適しています。
高効率カップリング
フォトニック集積回路(PIC)などの偏波感受性デバイスに対して、シングルモード光源を最大効率で結合するための専用探索・ロックアルゴリズムを搭載しています。
マルチバンド評価
低挿入損失の1×4偏波保持(PM)スイッチを内蔵したオプションにより、複数の波長可変レーザを使用したフルバンドシステムにも対応しています。
高速スイッチング
偏波状態(SOP)の切り替え速度は "125ms" と高速にて、研究開発(R&D)、および品質保証(QA)向けの測定環境でも高いスループットを実現します。
