アプリケーション
アプリケーションを選択すると、試験内容、セットアップ方法、期待される性能を含む実用的な測定概要をご確認いただけます。各ページには、R&Dおよび生産環境に対応した、推奨されるSantec測定器と代表的な構成例を掲載しています。
アプリケーションソリューション
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Read more about 光部品特性評価光部品特性評価パッシブデバイスおよび多ポートデバイス向けに、高速スイープによるIL/PDL/WDL測定とバックリフレクション評価を実現。R&Dから量産まで高い再現性を確保します。 -
Read more about ケーブルアセンブリケーブルアセンブリIL/RL/極性試験を高スループットで実現。再現性とトレーサビリティを備えた測定により、高速・高精度・量産対応の自動化をサポートします。 -
Read more about シリコンウェハ/チップ評価シリコンウェハ/チップ評価リアルタイムかつスケーラブルなウェーハ／ダイ試験を実現。スペクトル評価とその場でのトラブルシューティングにより、パッケージング前の歩留まり向上を支援します。 -
Read more about シリコンフォトニクス開発シリコンフォトニクス開発高分解能スペクトル評価とその場でのPICトラブルシューティングを実現。柔軟なワークフローにより、検証・デバッグ・設計の反復を加速します。 -
Read more about 製造プロセスモニタリング製造プロセスモニタリングインライン対応の光計測によりプロセス管理を実現。高速3Dスキャンとウェーハマッピングでドリフトを早期検出し、歩留まりを確保します。 -
Read more about 量子コンピューティング量子コンピューティング安定したラビ周波数、低位相ノイズ、再現性の高いゲート忠実度を実現。精密なレーザー制御は、スケーラブルな量子論理演算の鍵となります。
