高出力化による幅広いデバイス評価への対応
レーザ共振器の最適化により、従来機を上回る連続(CW)発振で +15 dBm (30 mW)を超えるピーク光出力を実現しました。挿入損失の大きい光デバイス評価や、シリコンフォトニクスにおける光表面結合など、光量が不足しがちなアプリケーションにおいても、安定した測定・評価が可能です。
- TSL-580
波長可変レーザ
(波長可変光源)
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概要
TSL-580は、santecの高性能チューナブルレーザーの第8世代モデルであり、広帯域な波長可変範囲、高出力、ならびに優れたS/N比を兼ね備えています。従来機で実現されてきた掃引速度制御、波長分解能、波長精度、および広いファインチューニング範囲を踏襲しつつ、レーザーキャビティの再設計と制御エレクトロニクスの刷新が行われています。新しいキャビティ設計により、出力可能な光パワーが向上するとともに、掃引直線性が改善され、波長掃引測定においてより高出力かつ高い再現性を備えた光源を提供します。同時に、再設計された制御エレクトロニクスにより、より狭い線幅を実現し、周波数安定性の向上と、高度な光学評価における高精度な波長制御を可能にしています。
TSL-580は、自動化された光デバイス評価システムにおける光源としての使用を想定して設計されています。santecの光パワーメータおよび偏波コントローラと組み合わせることで、挿入損失 (IL) や偏波依存損失 (PDL) の測定に対応します。その高い性能により、光部品評価、PIC特性評価、分光、センシング、量子フォトニクス分野など、幅広いアプリケーションに適しています。
狭線幅化による高精度測定の実現
制御回路の刷新により、20 kHzの狭線幅を達成しました。量子光学や高精度センシングなど、微小スペクトル領域の測定において、ノイズの影響を抑えた高分解能な観測を可能にします。
優れた波長掃引直線性
駆動系を最適化することで、波長掃引時の直線性を従来比約2倍に向上させました。分光分析やセンシング用途において、より安定した波長掃引と高精度なデータ取得を実現します。
高い波長分解能と波長精度
0.1 pm の波長分解能と精度を提供します。
高SNRと低SSE
自然放出光レベルを低く抑え、信号に対する自然放出光(SNR)は 90 dB/0.1 nm を実現しています。
特性データ例
高出力
狭線幅
波長掃引直線性
アプリケーション
- 先端光デバイス評価 (シリコンフォトニクス、量子フォトニクス)
- 光部品評価 (WSS、AWG、DWDMなど)
- 光ファイバ伝送試験
- 光分光測定
光学特性評価システムの詳細は、Swept Test System参照ください。
