高输出功率支持各类光学器件测试
通过对激光腔体进行优化，TSL-580 在连续波（CW）工作模式下实现了超过 +15 dBm（30 mW）的峰值光输出功率，性能超越前代产品。该高输出功率即使在光功率容易不足的应用场景中，也能够实现稳定的测量与评估，例如具有高插入损耗的光学器件以及硅光子学中表面光栅耦合（surface grating coupling）的器件表征。
- TSL-580
高性能可调谐激光器
- 高速波长扫描，扫描速度最高可达 200 nm/s
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波长分辨率：0.1 pm
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高信噪比：90 dB / 0.1 nm
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提供宽调谐范围产品系列：1240–1640 nm
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高输出功率：峰值功率 >15 dBm
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窄线宽：典型值 20 kHz（Q 型）
- 扫描线性度：<5%
概要
TSL-580 是 Santec 第八代高性能可调谐激光器，将宽波长调谐范围、高输出功率以及优异的信噪比集于一体。在继承前代产品扫描速度控制、波长分辨率、波长精度以及宽精细调谐范围等优势基础上，TSL-580 进一步采用了全新设计的激光腔体及升级后的控制电子系统。
全新的激光腔体设计在提升可用输出功率的同时，也优化了扫描线性度，从而为扫描波长测量应用提供更高性能、更稳定可预测的光源。同时，重新设计的控制电子系统支持更窄的线宽，实现更稳定的频率特性以及更精确的波长控制，可满足高要求的光学测试应用需求。
TSL-580 专为自动化光学测试系统中的光源应用而设计。结合 Santec 光功率计及偏振控制器使用时，可支持插入损耗（IL）和偏振相关损耗（PDL）测量。
凭借其高性能特性，TSL-580 非常适用于以下应用：
- 光学器件测试
- 光子集成芯片（PIC）表征
- 光谱分析（Spectroscopy）
- 光学传感（Sensing）
- 量子光子学（Quantum Photonics）
窄线宽实现高精度测量
通过全新设计的控制电路，TSL-580 实现了 20 kHz 的窄线宽。这显著降低了极窄光谱区域测量中的噪声影响，可为量子光学、高精度传感等应用提供更高分辨率的观测能力。
优异的波长扫描线性度
通过优化驱动系统，波长扫描线性度提升至约为前代产品的两倍。该改进可在光谱分析、传感等应用中实现更加稳定的波长扫描，并提供更高的数据精度。
波长分辨率与精度
0.1 pm 波长分辨率以及亚皮米（sub-pm）级波长精度。
业界领先的信噪比（SNR）与 SSE 性能
90 dB/0.1 nm 的信噪比（Signal-to-Noise Ratio，SNR），以及超低水平的 SSE（自发辐射旁模，Spontaneous Sideband Emission）。
典型数据
高输出功率
窄线宽
扫描线性度：<5%
应用
- 光子器件表征（硅光子学 SiPh、量子光学）
- 光学器件表征
- 光纤传输测试
- 光谱分析
详情请参阅此链接。 -> 扫频测试系统
