高精度 PDL 表征
非常适用于搭配固定光源或可调谐光源进行偏振相关损耗（PDL）测量。其可与 Santec 的 Swept Test System（STS）无缝集成，自动应用 Mueller Matrix（穆勒矩阵）算法，实现随波长变化的 PDL 数据分析。
- PCU-200
偏振控制器
- 支持基于 Mueller Matrix（穆勒矩阵）方法的 PDL（偏振相关损耗）测量
- 可与 Santec 的 Swept Test System 软件集成使用
- 宽广的 1260–1650 nm 波长范围，可覆盖多个光通信测试波段
- 可选配 1×4 保偏（PM）开关，实现多台可调谐激光器下的全波段覆盖
- 配备偏振搜索与锁定算法，可高效将光耦合至 PIC 等偏振敏感器件
- 支持通过 USB 或 Ethernet 的 SCPI 指令实现自动化测试
概述
PCU-200 是一款多功能偏振控制器，专为协助光学工程师高效完成各类测试与器件表征任务而设计。其工作波长范围覆盖 1260–1650 nm，可在单一平台上支持 O、E、S、C 和 L 波段测试应用。
应用
- PDL 测量（偏振相关损耗）：非常适用于使用固定光源或可调谐光源进行偏振相关损耗（PDL）测量。
- 光源耦合：可高效地将单模（SM）光源耦合至具有高 PDL 或对偏振敏感的器件中，例如光子集成芯片（PIC）。
- 器件表征：特别适用于 Co-Packaged Optics（CPO，共封装光学）及 Photonic Integrated Chips（PIC，光子集成芯片）的性能表征。
- 质量与研发应用：广泛应用于质量保证（QA）以及研发（R&D）环境。
高效率耦合
配备专用的搜索与锁定算法，可将单模光源以最高效率耦合至偏振敏感器件中，例如 Photonic Integrated Chips（PIC，光子集成芯片）。
多波段测试
针对需要搭配多台可调谐激光器的测试系统，提供 “Wideband（宽带）” 选项，内置低损耗 1×4 保偏（PM）开关，可整合最多四路输入光源。
快速切换
支持最快 125 ms 的偏振态（SOP）切换速度，可满足研发（R&D）与质量保证（QA）环境中的高吞吐量测试需求。
