高空间分辨率 5 µm
即使测量范围显著扩展，SPA-200 仍可保持 5 µm 的高空间分辨率，从而能够对微小反射点及损耗因素进行精确评估。
- SPA-200
光器件链路分析仪
- RL 与 IL 分布分析
- 测量范围：250 m
- 空间分辨率：5 µm
- RL 与 IL 精度：±0.2 dB（偏振无关）
- 高动态范围 WDL 测量
- 可提供 O 波段与 CL 波段版本
概要
SPA-200 是一款先进的分析仪器，可实现高精度的反射点与缺陷位置检测、微小损耗的精确测量，以及波导传输损耗的表征，这些能力对于光纤线缆组件制造以及光子器件测试至关重要。
与 SPA-110 相比，SPA-200 的最大测量范围扩展至 250 米，提升超过八倍，使其能够对长距离光纤组件及复杂光子系统进行检测。同时，SPA-200 采用新开发的偏振无关探测器，显著提升了非保偏器件的损耗测量精度，从而获得更高的测量重复性与可靠性。
尽管测量范围大幅提升，SPA-200 仍保持与前代产品相同的 5 µm 高空间分辨率。这些性能使 SPA-200 成为一款强大的工具，适用于从硅光子学与集成光子器件研究，到光纤组件测试以及量产自动化测试系统等多种应用场景。
长测量范围 250 m
最大测量范围可达 250 米，相比上一代型号（SPA-110）提升超过八倍，使其能够对长距离光纤线缆组件进行检测。
针对硅光子学优化设计
SPA-200 支持高精度微小损耗测量以及波导传输损耗表征，可广泛应用于从研发到生产制造等多个阶段的各类应用场景。
高精度损耗测量（采用偏振无关探测器）
采用新开发的偏振无关探测器，可降低在非保偏器件测量中的测量波动，从而显著提升损耗测量的准确性。
内置易用分析软件
可对反射事件进行分析，支持定义不同材料的多个折射率，计算波导衰减，并支持数据的保存与加载。
应用领域
- 光纤线缆组件缺陷与损耗测量
- CPO / PIC 器件的损耗与传输特性分析
- 光收发器件损耗分析
- 光学器件与连接器检测
- 基于单模光纤（SMF）的器件测试
