高度可扩展的模块化平台
模块化 STP-100 支持最多 6 个插槽，可根据需求定制测试配置，适用于广泛的光学测量应用。
- STP-100
扫频测试平台
- 波长范围：1240–1680 nm
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最多支持 24 通道测量
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动态功率范围：-70 至 +5 dBm
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高速数据传输速率：最高 100 Mbps
- 单次波长扫描即可实现高动态范围测量
概要
扫频测试平台（STP-100）是一款针对搭载 Santec 可调谐激光光源（TSL 系列）的高速扫描测量而优化的新型平台。支持最多 6 个模块插槽，可集成光功率计、偏振控制器和光开关模块。数据传输速度最高可达 100 Mbps，相比上一代产品提升至 4 倍，STP-100 可显著提高从研发到生产测试等应用中的测量效率。此外，还可轻松配置光学特性测试系统，用于插入损耗（IL）、波长相关损耗（WDL）以及偏振相关损耗（PDL）等测量。
MPM-315 是一款专为 STP-100 设计的高动态范围 4 通道光功率计模块。采用专有检测技术，可在单次波长扫描过程中实现宽范围、高精度的光功率测量，从而提高光学特性测试的效率。STP-100 支持 LAN、USB 和 GPIB 接口，两款产品均保持与现有 MPM 系列仪器的指令兼容性，可实现从现有测试系统的无缝迁移。
数据传输速度最高提升 4 倍，提高测试效率
数据传输速度最高提升至 4 倍，可显著缩短测量时间，实现更快速、更高效的光学器件测试。
支持最多 24 通道的光功率测量系统
最多支持 24 个测量通道，可高效测试多端口光学器件和光开关。
单次波长扫描实现高动态范围测量
4 通道 MPM-315 可在单次扫描中实现宽动态范围测量，从而对高损耗和波长相关光学器件进行更快速、更精确的测试。
应用
- 光学功率测量
- IL, WDL 及 PDL 测量 (Swept Test System)
