モジュール型プラットフォームによる高い拡張性
最大6スロットに対応し、光パワーメータ、偏波コントローラ、光スイッチなどを自由に組み合わせ可能。研究開発から量産工程まで幅広い光測定ニーズに対応します。
- STP-100
掃引測定
プラットフォーム
AI向け光インターコネクト、シリコンフォトニクス、Co-Packaged Optics (CPO)、および光電融合デバイス評価を支える掃引測定ソリューション
- 広帯域波長範囲：1240~1680 nm
- 最大24チャネルの高効率測定
- 広いダイナミックレンジ：-70~+5 dBm
- 最大100 Mbpsの高速データ転送
- 1回の波長掃引で高ダイナミックレンジ測定
概要
STP-100は、波長可変光源(TSLシリーズ)を使用した高速掃引測定向けの新しいモジュール型プラットフォームです。光パワーメータ、偏波コントローラ、光スイッチなどの機能モジュールを統合でき、最大6スロットの柔軟なシステム構成に対応します。また、高速LAN通信により最大100Mbpsのデータ転送を実現し、従来機比4倍の高速データ収集を可能にします。さらに、挿入損失(IL)、波長依存損失(WDL)、偏波依存損失(PDL)などの光特性評価システムを容易に構築でき、シリコンフォトニクスデバイスや光通信部品の評価効率向上に貢献します。
MPM-315は、STP-100に搭載可能な高ダイナミックレンジ4チャネル光パワーメータモジュールです。独自の検出技術により、1回の波長掃引で広い測定レンジと高精度測定を実現し、光特性評価の効率化に貢献します。
STP-100はLAN、USB、GPIBに対応しており、既存のMPMシリーズとの通信コマンド互換性を維持しているため、既存システムからのスムーズな移行が可能です。
高速データ転送
最大100Mbpsのデータ転送を実現。多チャネル・高速掃引測定時のデータ収集時間を短縮し、測定スループットを向上します。
最大24チャネルの光パワー測定
MPM-315を最大6台搭載することで、最大24チャネルの測定システムを構築可能。多ポート光部品や光スイッチの評価に最適です。
1回の波長掃引で広いダイナミックレンジ測定
MPM-315は独自の検出技術により、1回の波長掃引で広い測定レンジを実現。測定時間の短縮と高精度測定を両立し、高損失デバイスや波長依存特性評価に適しています。
アプリケーション
- 光パワー測定
- IL / WDL / PDL測定 (Swept Test System)
