3月 16, 2026
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尽管测量范围大幅提升，SPA-200仍保持与上一代产品相同的5 µm高空间分辨率。凭借这些性能，SPA-200成为从硅光子与集成光子器件研究到光纤线缆组件测试以及大规模生产自动化测试系统的理想工具。
3月 16, 2026
Santec 推出 SPA-200：微米级精度光纤与光子器件测试
— 具备 250 m 测量范围、5 µm 空间分辨率及偏振无关探测器，大幅提升光纤线缆组件测试能力 —
产品名称： Swept Photonics Analyzer
型号： SPA-200
santec LIS Corporation（日本爱知县小牧市）推出最新产品——基于 OFDR（光频域反射测量）技术的Swept Photonics Analyzer「SPA-200」。该先进分析仪器可实现对反射点及缺陷位置的高精度检测、微小损耗的精确测量，以及波导传播损耗的表征，这些能力对于光纤线缆组件和光子器件测试至关重要。
SPA-200 的最大测量范围扩展至250米，是上一代产品SPA-110的8倍以上，可用于检测长距离光纤线缆组件及复杂光子系统。同时，SPA-200采用全新开发的偏振无关探测器，显著提升了对非偏振保持器件的损耗测量精度，从而确保更高的测量重复性与可靠性。尽管测量范围大幅提升，SPA-200仍保持与上一代产品相同的5 µm高空间分辨率。凭借这些性能，SPA-200成为从硅光子与集成光子器件研究到光纤线缆组件测试以及大规模生产自动化测试系统的理想工具。
主要特点
1. 250 m 长测量范围
最大测量范围可达250米，是上一代SPA-110的8倍以上，可支持长光纤线缆组件的检测需求。
2. 5 µm 高空间分辨率
即使在大幅扩展测量范围的情况下，仍可保持5 µm的空间分辨率，能够精确评估微小反射点及损耗因素。
3. 偏振无关探测器实现高精度损耗测量
全新开发的偏振无关探测器可减少非偏振保持器件中的测量波动，显著提高损耗测量精度。
4. 针对硅光子应用优化
支持微小损耗测量及波导传播损耗表征，可广泛应用于从 研发阶段到生产测试流程的各种场景。
SPA-200预计将于2026年4月开始接受订单。
展会信息
SPA-200 将在 OFC 2026 展会上首次展出。
时间：2026 年 3 月 17 日起
地点：美国洛杉矶
展位号：#1029
