9月 3, 2026

santec发布扫频测试平台 STP-100 及高动态范围4通道光功率计模块 MPM-315

面向AI驱动光互连、硅光子、共封装光学(CPO)及高密度光器件测试的新一代扫频测量平台

产品名称：扫频测试平台（Swept Test Platform）
型号： STP-100

产品名称： 4通道光功率计模块（4-Channel Optical Power Meter Module）
型号： MPM-315

随着AI基础设施建设和硅光子技术的快速发展，市场对于更高速、更复杂光器件的需求不断增长，测试系统也因此需要更高的测试吞吐量、更优异的扩展性以及更简化的系统集成能力。santec LIS Corporation（日本爱知县小牧市）宣布推出全新产品：扫频测试平台 STP-100（Swept Test Platform）以及 4通道光功率计模块 MPM-315。

STP-100是一款针对santec可调谐激光器（TSL系列）高速扫频测量而优化设计的新一代通用平台。除光功率计模块外，该平台还可集成偏振控制器模块、光开关模块等多种功能模块，实现灵活的系统配置。STP-100最多支持6个模块插槽，数据传输速度较上一代产品最高提升4倍（最高可达100 Mbps）。这一性能提升显著提高了高速扫频测量过程中的数据采集效率，可广泛应用于从研发阶段到生产线测试的各种光器件评测工作。此外，STP-100还可便捷构建用于插入损耗（IL）、波长相关损耗（WDL）以及偏振相关损耗（PDL）等测量的光学特性测试系统，从而提高硅光子器件及光通信器件的评测效率。
MPM-315是一款专为STP-100平台设计的高动态范围4通道光功率计模块。该产品采用santec专有检测技术，可在单次波长扫描过程中实现宽动态范围、高精度的光功率测量，相较于传统测试方法，能够更高效地完成光学特性分析与评估。
STP-100配备LAN、USB和GPIB通信接口。同时，STP-100与MPM-315均保持与现有MPM系列产品的命令兼容性，使用户能够从现有测试系统平滑迁移，有效降低系统升级成本并提高导入效率。