掃引測定プラットフォーム「STP-100」と高ダイナミックレンジ4チャネルパワーメータモジュール「MPM-315」を発表

santec LIS株式会社（本社：愛知県小牧市）は、波長可変光源を用いた光デバイス評価向けに、掃引測定プラットフォーム「STP-100」と、高ダイナミックレンジ4チャネルパワーメータモジュール「MPM-315」を開発しました。

近年、AIインフラの拡大やシリコンフォトニクス技術の進展に伴い、高速かつ高機能な光デバイスへの需要が急速に高まっています。それに伴い、評価システムには、より高いスループット、優れた拡張性、そしてシステム統合の簡素化が求められています。STP-100は、こうした市場ニーズに応えるために開発された、santecの波長可変光源（TSLシリーズ）を用いた高速掃引測定に最適化された新しい共通プラットフォームです。光パワーメータモジュールに加え、偏波コントローラモジュールや光スイッチモジュールなど複数の機能モジュールを統合できる構造を採用しています。最大6スロットのモジュール実装に対応するとともに、従来機比4倍の高速データ転送（100Mbps）を実現しました。これにより、高速掃引測定時のデータ取得効率が向上し、研究開発から生産ラインまで幅広い光デバイス評価用途に対応します。また、挿入損失（IL）、波長依存損失（WDL）、偏波依存損失（PDL）などの光特性評価システムを容易に構築でき、シリコンフォトニクスデバイスや光通信部品の評価効率向上に貢献します。
MPM-315は、STP-100に搭載可能な高ダイナミックレンジ4チャネルパワーメータモジュールです。独自の検出技術により、1回の波長掃引で広い測定レンジと高精度な光パワー測定を実現し、従来より効率的な光特性評価を可能にします。
STP-100は、LAN、USB、GPIBの通信インターフェースを備えています。また、STP-100およびMPM-315は既存のMPMシリーズとの通信コマンド互換性を維持しており、既存システムからの移行も容易に行えます。

新製品の特長
1. モジュール型プラットフォームによる高い拡張性
STP-100は最大6スロットのモジュール搭載に対応しており、光パワーメータ、偏波コントローラ、光スイッチなどを自由に組み合わせることができます。用途に応じてシステム構成を最適化できるため、研究開発から量産工程まで幅広い光測定ニーズに対応します。

2. 従来比4倍の高速データ転送により測定効率を向上
STP-100は高速LAN通信を採用し、従来製品と比較して最大4倍のデータ転送速度（100Mbps）を実現しました。これにより、多チャネル・高速掃引測定時においてもデータ収集時間を大幅に短縮し、高スループットな光デバイス評価を可能にします。

3. 最大24チャネルの光パワー測定システムを構築可能
MPM-315を最大6台搭載することで、最大24チャネルの光パワー測定システムを構築できます。多ポート光部品や光スイッチ製品の評価など、多チャネル測定が必要なアプリケーションに適しています。

4. 1回の波長掃引で高ダイナミックレンジ測定を実現
MPM-315は4チャネル構成の光パワーメータモジュールです。独自の検出技術により、1回の波長掃引測定で広い測定レンジをカバーできるため、測定時間の短縮と測定精度の向上を両立します。また、波長依存特性評価や高損失デバイス測定など、広いダイナミックレンジが求められるアプリケーションに適しています。


受注開始：2026年10月予定

展示会情報
本製品は、2026年9月9日より中国・深センで開催される「CIOE 2026」にて展示いたします。
当社ブース番号：#10A52